用金属探针与半导体接触以测量半导体的电阻率通过采取()避免少数载流子注入的影响。

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用金属探针与半导体接触以测量半导体的电阻率通过采取()避免少数载流子注入的影响。

A.引入杂质

B.改变接触

C.增加表面复合

D.减少表面复合

用金属探针与半导体接触以测量半导体的电阻率通过采取()避免少数载流子注入的影响。

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